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掃描電鏡（SEM,ScanningElectronMicroscope）作為半導體行業(yè)中常用的高精度檢測工具，憑借其納米級分辨率和強大的表征能力，已廣泛應用于芯片制造、材料開發(fā)、失效分析、工藝優(yōu)化等多個關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文將詳細介紹掃描電鏡在半導...

LiteScopeAFM-SEM同步聯(lián)用技術(shù)在微觀世界的探索中，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子顯微鏡(SEM)一直是科學家們重要的工具。然而，傳統(tǒng)技術(shù)中兩者往往獨立運行，難以在同一時間、同一點位對樣品進行綜合分析。如今，LiteScope...

傳統(tǒng)的細胞成像技術(shù)往往受限于成像速度、精度以及對細胞活性的影響，難以滿足日益增長的科研需求。全自動活細胞成像系統(tǒng)的出現(xiàn)，為細胞實驗的高效與精準成像提供了全新的解決方案，極大地推動了細胞生物學及相關(guān)領(lǐng)域的研究進展。一、實時動態(tài)監(jiān)測：捕捉細胞的...

用戶案例｜讀懂火山噴發(fā)前的“化學倒計時”，Neoscan顯微CT助力巖漿同化機制研究！在地質(zhì)研究中，“時間”是一項最難精確捕捉的變量。尤其是在火山噴發(fā)這樣的突發(fā)性地質(zhì)事件中，巖漿從深部穿越地殼、與圍巖反應、最終噴出地表，這一過程可能僅在數(shù)天...

半導體是現(xiàn)代電子產(chǎn)品的基礎(chǔ)，支撐著從計算到數(shù)據(jù)存儲的一切功能。隨著器件尺寸縮小且結(jié)構(gòu)日益復雜，精準的失效分析變得至關(guān)重要。AFM-in-SEM失效分析：該技術(shù)直接集成于FIB/SEM（聚焦離子束/掃描電鏡）環(huán)境，能夠在納米尺度下對半導體元件...

NatureNanotechnology｜原子層沉積賦能無鈷LiNiO?正極材料，全固態(tài)鋰電池性能革新！發(fā)表文章：High-energyall-solid-statelithiumbatteriesenabledbyCo-freeLiNiO...

在比利時國家fan罪學與刑事學研究所（NICC）的微跡與昆蟲學實驗室中，LucBourguignon負責尋找并研究生物來源的微量物證，如人類和動物毛發(fā)、昆蟲、植物、硅藻等。該實驗室的分析結(jié)果被用于刑事調(diào)查和法庭審判。在微跡與昆蟲學實驗室中，...

它憑什么成為顯微CT中的“愛馬仕”？科研人都在用的比利時Neoscan顯微CT揭秘！你是否也曾為看不清材料內(nèi)部結(jié)構(gòu)而苦惱？是否在尋找一臺操作簡單、掃描快速、圖像清晰的顯微CT？40年歷史沉淀，一直站在Micro-CT技術(shù)革新的前沿，Neos...